半导体的检测与分析(第2版) 电子书下载 PDF下载

半导体的检测与分析(第2版)
内容简介
  本书的内容与1984年第1版的内容完全不同。本书介绍补充了这二十年来半导体科研、生产中常用的各种检测、分析方法和原理。全书共分7章,包括引论,半导体的高分辨X射线衍射,光学检测与分析,表面、薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征。书中根据实践列举了一些实例,同时附有大量参考文献和常用的数据,以便读者进一步参考和应用。
  本书可供从事半导体科研和生产的科研人员,大专院校老师和研究生使用。
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