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材料分析方法
内容简介
《材料分析方法(第2版)》主要包括X射线衍射分析、电子显薇分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、多晶体织构的测定、透射电镜结构与原理、电子衍射、衍衬成像、衍射动力学、高分辨透射电子显微术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、场离子显微镜与原子探针扫描隧道与原子力显微镜及X射线光电子能谱仪等显微分析与原子探针扫描隧道与原实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
  本书可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书,也可供材料成形与控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。 ·查看全部>>
目录
第2版前言
  第1版前言
  绪论
  第一篇 材料X射线衍射分析
  第一章 X射线物理学基础
  第一节 X射线的性质
  第二节 X射线的产生及X射线谱
  第三节 X射线与物质的相互作用
  习题
  第二章 X射线衍射方向
  第一节 晶体几何学简介
  第二节 布拉格方程
  第三节 X射线洐射方法
  习题
  第三章 X射线衍射强度
  第一节 多晶体衍射图相的形成
  第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
  第三节 洛伦兹因数
  第四节 影响衍射强度的其它因数
  第五节 多晶体衍射的积分强度公式
  习题
  第四章 多晶体分析方法
  第一节 德拜-谢乐法
  第二节 其它照明法简介
  第三节 X射线衍射仪
  习题
  第五章 物相分析及点阵参数精确测定
  第一节 定性分析
  第二节 定量分析
  第三节 点阵参数的精确测定
  第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析
  习题
  第六章 宏观残余应力的测定
  第一节 物体内应力的产生与分类
  第二节 X射线宏观应力测定的基本原理
  第三节 宏观应力测定方法
  第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题
  习题
  第七章 多晶体织构的测定
  第一节 极射赤面投影法
  第二节 织构的种类和表示方法
  第三节 丝织构指数的测定
  第四节 极图的测定
  第五节 反极图的测定
  习题
  第二篇 材料电子显微分析
  第八章 电子光学基础
  第一节 电子波与电磁透镜
  第二节 电磁透镜的像差与分辨率
  第三节 电磁透镜的景深和焦长
  习题
  第九章 透射电子显微镜
  第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理
  第二节 主要部件的结构与工作原理
  第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
  习题
  第十章 电子衍射
  第一节 概述
  第二节 电子衍射原理
  第三节 电子显微镜中的电子衍射
  第四节 单晶体电子衍射花样标定
  第五节 复杂电子衍射花样
  习题
  第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析
  第一节 概述
  第二节 薄膜样品的制备方法
  第三节 衍射衬度成像原理
  第四节 消光距离
  第五节 衍衬运动学
  第六节 衍衬运动学简介
  第七节 晶体缺陷分析
  习题
  第十二章 高分辨透射电子显微术
  第十三章 扫描电子显微镜
  第十四章 电子探针显微分析
  第十五章 其他显微分析方法
  实验指导
  参考文献
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