电磁辐射（天线）与散射（雷达与隐身）领域的近场研究，具有很高的理论意义和工程价值。国际上天线近场测量技术研究*早可溯源到20世纪50年代，以满足相控阵雷达及天线罩等军用装备的发展需要。历经近60多年的技术进步，发展出了平面、柱面和球面等近场扫描形式，以满足各种电磁辐射测试与调试的工程需求。1988年美国国家标准局的Barird和佐治亚工学院的Joy在IEEE Transactions on Antennas and Propagation专刊上分别回顾了天线近场测量技术的发展史，标志着近场测量技术的成熟。之后又经20余年的完善，2012年天线测量技术协会（Antenna Measurement Techniques Association，AMTA）组织并发布了IEEE Recommended Practice for Near-Field Antenna Measurements（IEEE天线近场测量推荐实施标准），译者有幸在AMTA 2012年会现场见证了来自美国国家标准局（NIST）的Michael Francis宣布IEEE Std 1720TM一2012的发布。\n
　　辐射测量是散射测量的基础，而电磁散射近场测量具有更为重大的潜在应用价值。译者长期从事紧缩场研究，有着电磁辐射与散射测量一线工作的经历，对近场问题的关注也源于紧缩场应用、检测与误差校正等的研究。为了进一步推动我国电磁测量基础技术与应用的发展，服务于我国军事和民用装备的研制，译者引进与翻译了《IEEE天线近场测量推荐实施标准》，书中涵盖了平面、柱面和球面近场测量基本理论与工程应用、扫描探头以及不确定度分析等内容，对我国新一代雷达天线、射频隐身和无线通信等领域的天线测量研究人员有一定的参考价值。\n
　　由于译者水平有限，书中难免会有错误与不妥之处，敬请读者指正。