《X射线荧光光谱分析（第二版）》系统阐述了X射线荧光光谱分析（XRFS）基本原理，介绍了XRFS光谱仪及主要组成部件，特别是X射线激发源和X射线探测器的工作原理，强调了新型X射线激发源和探测器如聚焦毛细管X射线透镜、硅漂移探测器和超导探测器等的研究进展和特征性能。对开展XRFS分析所需的定性与定量分析方法、元素间基体校正、化学计量学计算等做了较详细的描述，评介了各方法的特点、局限及选用原则。在XRFS分析中，样品制备技术具有特殊的重要性，因此单独成章，以使读者对其有深刻认识并能灵活运用。在仪器与维护方面，分析了不同仪器的特性，提供了一定的具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则。近年来，微区XRFS技术发展迅速，因此《X射线荧光光谱分析（第二版）》也分别介绍了同步辐射X射线荧光与光谱分析技术与应用、微区X射线荧光光谱分析与应用。同时还篇幅综述了XRFS在地质、冶金、材料、考古、生物与环境等领域的研究进展与实际应用。希望可为广大读者提供可以借鉴和参考的信息。
　　《X射线荧光光谱分析（第二版）》可供X射线荧光光谱分析工作者学习参考，同时也可作为高等学校分析化学、分析仪器及相关专业师生的参考书。