林殷茵、宋雅丽、薛晓勇著的《阻变存储器--器件材料机理可靠性及电路》系统总结、归纳和对比了近来国际上在阻变存储器核心技术上研究的最新成果以及发展趋势，全书共分8章，包括阻变存储器核心技术近年来的发展趋势概述，2D存储单元结构，阻变材料和机理，阻变读写性能的优化，可靠性的优化，读写电路技术，提高良率以及可靠性的电路辅助技术．3D集成及相关电路技术。
本书可作为高等院校电子科学与技术、电子与信息工程、材料科学与工程等专业的高年级本科生和研究生的选修课教材，也可供从事这一领域研究的科研和工程技术人员参考。希望这本书会对有兴趣的读者深入了解阻变存储器这一国际热点研究领域的进展、聚焦问题以及发展趋势有所帮助。